梅特勒分析天平型号说明

梅特勒分析天平是一种用于测量微量物质质量的高精度天平，常用于化学、制药、食品等行业的质量控制和研究工作中。下面是梅特勒常见分析天平型号的说明：

1. ME204系列：这是一系列基础型号的分析天平，可满足大多数精度测量需求。其分辨率最高可达0.1ug，称量范围为0~220g。

2. XPE系列：这是一系列精密分析天平，可实现更高的称量精度和更大的称量范围，适用于高端的质量控制和研究应用。其分辨率最高可达0.01ug，称量范围为0~320g。

3. MS系列：这是一系列微量分析天平，专门设计用于测量微量物质质量。其分辨率最高可达0.01ug，称量范围为0~120g。

4. XP系列：这是一系列实验室分析天平，提供高精度的称量和高级的自动化功能，支持计量检定和完整性检查。其分辨率最高可达0.01ug，称量范围为0~220g。

总之，不同的梅特勒分析天平型号适用于不同的应用场景，用户可根据自己的需求选择适合的型号。